Книги по радиоэлектронике

Новости партнеров

Малогабаритный частотомер с питанием от литиевого элемента
     Прототипом этого прибора послужил частотомер, описанный в статье И. Котова («Радио», 2008, № 2, с. 21, 22). Переделка свелась к замене батареи питания 6F22 литиевым ...
Microchip. Информацинный каталог. 2014
Название: Microchip. Информацинный каталог Год издания: 2014 Страниц: 88 Формат: djvu Размер: 17,34 MB Описание: Предлагаем вашему вниманию очередное издание информационного каталога ...
Microcontrollers From Assembly Language to C Using the PIC24 Family
Название: Microcontrollers From Assembly Language to C Using the PIC24 Family Автор: Robert Reese, J.W. Bruce, Bryan A. Jones Год издания: 2009 Страниц: 865 Формат: pdf Размер: 9,58 MB ...


Нынешняя колонка завершает тему, начатую в предыдущем номере. В ней продолжено рассмотрение современных и перспективных аспектов JTAG-тестирования компонент памяти (ЗУ), применяемого для проверки исправности их монтажа на ПП.

На практике в большинстве случаев тестированием вообще и JTAGтестированием ЗУ в частности занимаются контрактные производители электроники, оборудующие свои линии монтажа ПП теми или иными средствами тестирования. При этом аппаратные средства прогона JTAGтестов (ПЭ. 2009. № 2, 6-7), применяемые на контрактном производстве, могут отличаться от тех, которые использовались разработчиками тестов при их отладке. Такие отличия обуславливают наиболее сложные ситуации при переносе JTAG-тестов ЗУ от разработчика теста к производителю ПП: тест, устойчиво работающий на одном стенде, не работает или неустойчив на другом. Наиболее чувствительны к отличиям в аппаратном интерфейсе именно JTAG-тесты ЗУ, эмулирующие функциональный тест. Это, очевидно, связано с отклонениями в точности обеспечения тайминга при чтении и записи и, что более важно, в поддержании требуемых интервалов времени между циклами регенерации для SDRAM.